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GRID QUALITY DETERMINATION APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM
专利权人:
FUJIFILM CORP;富士フイルム株式会社
发明人:
NAITO SATOSHI,内藤 慧
申请号:
JP2015224672
公开号:
JP2017086790A
申请日:
2015.11.17
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To easily determine grid quality, in a grid quality determination apparatus, method, and program.SOLUTION: An image acquisition section 31 acquires a radiographic image including a periodic pattern of a grid. A frequency analyzing section 32 performs a frequency analysis on the radiographic image to acquire a frequency spectrum of the radiographic image. A peak determination section 33 determines a peak to be processed in the frequency spectrum. A first determination section 34 measures the width of the peak to be processed and determines quality of a grid 4 on the basis of the measured width of the peak.SELECTED DRAWING: Figure 2【課題】グリッド品質判定装置、方法およびプログラムにおいて、グリッドの品質を容易に判定できるようにする。【解決手段】画像取得部31が、グリッドの周期的パターンを含む放射線画像を取得し、周波数解析部32が、放射線画像に対して周波数解析を行って、放射線画像の周波数スペクトルを取得する。ピーク決定部33が、周波数スペクトルにおける処理対象となるピークを決定する。第1の判定部34が、処理対象となるピークの幅を計測し、計測されたピークの幅に基づいてグリッド4の品質を判定する。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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