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一种MRI测温磁场漂移相位补偿方法
专利权人:
中国科学院上海技术物理研究所
发明人:
陈相教,孙健永,张建国
申请号:
CN201510395002.X
公开号:
CN104997512A
申请日:
2015.07.07
申请国别(地区):
CN
年份:
2015
代理人:
摘要:
本发明涉及一种MRI系统中磁场漂移相位补偿方法,这个方法的核心在于把测温物体本身的温度信息,和外界干扰因素独立开来,保证补偿过程中的外部信息和测温过程中的外部信息保持不变,通过这种方法来保证误差补偿的有效性。在误差补偿求取的过程中,固定采样时间,对大量的原始MR数据进行重建,然后计算磁场漂移在一定时间内对恒温物体相位信息的影响,并最终得到恒温下的平均相位偏移量,以便物体测温磁场漂移相位补偿过程中,将每一个相位改变量减去该平均相位偏移量。最后再使用独立的数据,对这个相位补偿量的准确性进行验证。本发明为MRI测温过程中由于磁场漂移所引起的误差提供了一种有效的补偿方法,提高了MRI测量的准确性。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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