电离辐射剂量测量方法及系统

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专利权人:

成都理工大学

发明人:

郭英蕾,张庆贤,葛良全

申请号：

CN201910241698.9

公开号：

CN109876312A

申请日:

2019.27.03

申请国别(地区):

CN

年份:

2019

代理人:

摘要：

本公开提供一种电离辐射剂量测量方法及系统,涉及测量技术领域。该方法及系统,通过对掺碳的α‑氧化铝晶体进行电离辐射照射,获取掺碳的α‑氧化铝晶体辐射发光强度,根据辐射发光强度,得到掺碳的α‑氧化铝晶体的辐射吸收剂量率,根据辐射吸收剂量率,计算得到掺碳的α‑氧化铝晶体吸收电离辐射的第一吸收剂量,在得到第一吸收剂量后,对电离辐射照射后的掺碳的α‑氧化铝晶体进行激光照射,获取掺碳的α‑氧化铝晶体的光释光强度,根据光释光强度的累加值,计算得到掺碳的α‑氧化铝晶体的第二吸收剂量,将第二吸收剂量与第一吸收剂量进行比较,以验证电离辐射照射时掺碳的α‑氧化铝晶体的辐射吸收剂量率的准确性,从而以较低的成本实现电离辐射剂量的测量。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/