利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法
- 专利权人:
- 中国科学院上海应用物理研究所
- 发明人:
- 樊春海,李迪,李昆
- 申请号：
- CN201310633293.2
- 公开号：
- CN103735271A
- 申请日:
- 2013.12.02
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法，包括如下步骤：利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针；处理基底并利用该基底获取潜指纹；将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上，使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合；利用暗场显微镜进行检测。本发明提供的指纹分析方法不仅能够对潜指纹进行成像，而且能够同时检测指纹中所携带的化学分析物。结果表明，本发明提供的是一种简单快速的方法，可以对指纹样品进行直接的无损分析。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
