SELESNICK, Ivan;BODIS-WOLLNER; Ivan;BODIS-WOLLNER, Ivan
发明人:
BODIS-WOLLNER, Ivan,SELESNICK, Ivan
申请号：
USUS2012/025229
公开号：
WO2012/112675A2
申请日:
2012.02.15
申请国别(地区):
US
年份:
2012
代理人:
摘要：
A system and method for layer-by-layer quantification of the remodeling of the human fovea comprises finding a fixed reference point in inner retina, measuring the thickness of the inner retina at the fixed reference point, for a range of finely sampled distances starting from the fixed reference point, measuring the thickness, comparing the measured thickness with a normative base and obtaining a plurality of curves, evaluating area for each curve and defining a distance from the fixed reference having highest sensitivity with respect to the fixed reference point compared to the normative base, displaying a 3D re-creation of foveal architecture-based color- coded picture in accordance with the measured thickness at each finely sampled distance, entering the measured thickness into a model having parameters, obtaining numerical solutions for each parameter, and defining percent change of the parameters for the patient versus the parameters for the control.La présente invention concerne un système et un procédé de quantification couche par couche du remodelage de la fovéa chez l'homme comprenant les étapes consistant à trouver un point fixe de référence au niveau de la rétine interne, mesurer l'épaisseur de la rétine interne au niveau du point fixe de référence, pour une plage de distances soigneusement sélectionnées commençant au point fixe de référence, mesurer l'épaisseur, comparer l'épaisseur mesurée à une base normative et obtenir une pluralité de courbes, évaluer la surface pour chaque courbe et définir une distance à partir du point fixe de référence ayant la sensibilité la plus élevée par rapport au point fixe de référence comparativement à la base normative, afficher une nouvelle modélisation 3D de l'image basée sur l'architecture de la fovéa selon un code de couleurs en fonction de l'épaisseur mesurée pour chaque distance soigneusement sélectionnée, entrer l'épaisseur mesurée dans un modèle ayant des paramètres, obtenir les solutions numériques pour chaque
