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撮像装置、光量変化特性の算出方法、プログラム及び記憶媒体
专利权人:
キヤノン株式会社
发明人:
菅原 淳史
申请号:
JP20150121911
公开号:
JP2017011352(A)
申请日:
2015.06.17
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
【課題】撮像時の光量変化特性を高精度に検知する。【解決手段】デジタルカメラ100での撮像時に、測光センサ108により一定の周期で測光を複数回行い(S101)、測光結果に基づいてn回目とn+m回目の各測光値の類似性を示す評価値(SAD(m))を算出し(S102)、算出した評価値から周波数100Hzのフリッカがあるか否かを判定する(S103)。測光周期を1.667msとした場合、n回目とn+6回目とは同位相となり、n回目とn+3回目とはほぼ逆位相となるため、ゼロに近い小さい値を取るSAD(6)と、比較的大きな値を取るSAD(3)とを求め、SAD(6)とSAD(3)との関係から100Hzフリッカ環境下か否かを判定する。同様に、ゼロに近い小さい値を取るSAD(5)と比較的大きな値を
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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