您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

METHOD FOR INCREASING SENSITIVITY OF PSEUDOMONAS AERUGINOSA STRAINS ISOLATED FROM WOUNDS TO CEFOTAXIME USING LOW-INTENSITY LASER RADIATION AT A WAVELENGTH OF 870 NM
专利权人:
STATE HIGHER EDUCATIONAL INSTITUTION "UZHGOROD NATIONAL UNIVERSITY"
发明人:
PANTO VALERII VALERIIOVYCH,KOVAL HALYNA MYKOLAIVNA,PANTO VALERII IVANOVYCH
申请号:
UAU201509708
公开号:
UA106331U
申请日:
2015.10.07
申请国别(地区):
UA
年份:
2016
代理人:
摘要:
Спосіб підвищення чутливості до цефотаксиму штамів Pseudomonas aeruginosa, висіяних із ран, із використанням низькоінтенсивного лазерного випромінювання з довжиною хвилі 870 нм, включає опромінення стандартної зависі культури (стандарт мутності 0,5 за Мак-Фарландом) Pseudomonas aeruginosa низькоінтенсивним лазером при безперервному режимі випромінювання. Опромінення стандартної зависі культури Pseudomonas aeruginosa променем низькоінтенсивного лазера інфрачервоного діапазону при довжині хвилі 870 нм, щільності потужності 15мВт/смз експозицією 180, 360 та 600 секунд здійснюється у м'ясопептонному бульйоні, і опромінюють безпосередньо культури мікроорганізмів, які знаходяться на початку логарифмічної фази росту (16-24-годинна агарова або 5-6 годинна бульйонна культура), після чого культуру пересіюють на агар Мюллер-Хінтона у чашках Петрі та наносять стандартні комерційні мембранні диски, насичені антибіотиком і витримують після цього у термостаті при температурі 37 °С протягом 24 годин, далі вимірюють зони затримки росту за допомогою штангенциркуля та порівнюють отримані результати із контрольною групою (неопромінена культура), при цьому підвищення чутливості досліджуваних штамів Pseudomonas aeruginosa найбільш виражене за експозиції 180 секунд і відповідає щільності дози 2,7 Дж/см.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充