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X射线设备校正方法、成像方法和成像系统
- 专利权人:
- 上海联影医疗科技股份有限公司
- 发明人:
- 陆学飞,冷官冀,崔凯,闫晶
- 申请号：
- CN202011185982.8
- 公开号：
- CN112294349A
- 申请日:
- 2020.10.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2021
- 代理人:
- 摘要：
- 本申请涉及一种基X射线设备校正方法、成像方法和成像系统，X射线设备的点阵光源与探测器之间设置有模体；点阵光源包括多个点光源；模体包括相互间隔设置的多个几何体；每个点光源的射线投影区域至少对应六个几何体；方法包括：控制点阵光源中多个点光源扫描模体，得到各个点光源对模体的投影图像；根据各投影图像，确定各投影图像中至少六个几何体在图像坐标系下的第一坐标；获取各几何体在X射线设备坐标系下的第二坐标；根据第一坐标以及第二坐标，计算点阵光源中各点光源的校正矩阵。通过获取点阵光源中各点光源的校正矩阵，再通过个点光源的校正矩阵能够校正X射线设备的成像质量，从而保证图像伪影校正的准确性，提升重建图像的质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
