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一种高电活性修饰电极的制备方法及其应用
专利权人:
鲁东大学
发明人:
袁柏青,徐春荧,张少华,金娟,牛余忠,陈厚,柏良久
申请号:
CN201811045990.5
公开号:
CN108956739A
申请日:
2018.09.07
申请国别(地区):
中国
年份:
2018
代理人:
马国冉
摘要:
本发明涉及一种高电活性修饰电极的制备方法及其应用。该制备方法步骤包括:首先在预先处理的玻碳电极上修饰有序介孔碳CMK‑3薄膜,再修饰全氟化酞箐钴分子层,得到高电活性修饰电极CoPcF16‑CMK‑3/GCE。本发明还涉及一种高电活性修饰电极在半胱氨酸检测中的应用。有益效果:通过该方法制备的修饰电极,呈现5对氧化还原峰,表现出优异的电化学活性,制备方法简单、牢固。本申请制备的高电化学活性电极不仅能催化巯基的氧化,还能催化其氧化产物的还原,并且对半胱氨酸和谷胱甘肽产生了电化学氧化还原差别,可用于在高浓度谷胱甘肽存在条件下选择性识别半胱氨酸。此外,该方法实现了在较负电位范围内半胱氨酸检测,解决了传统电氧化方法检测半胱氨酸时存在多巴胺、抗坏血酸、尿酸等易氧化干扰物的影响问题。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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