针对XRF元素测定的滤片、滤片制备方法、测定盒、元素测定方法
- 专利权人:
- 中国计量科学研究院
- 发明人:
- 李海峰
- 申请号：
- CN201510868143.9
- 公开号：
- CN105527308A
- 申请日:
- 2015.12.01
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 梁挥`祁建国
- 摘要：
- 本发明针对XRF元素测定的滤片、滤片制备方法、测定盒、元素测定方法，涉及元素测定领域，该滤片制备方法包括分别取多种浓度待测元素的标准液置于载体上，并进行干燥处理，获得原始滤片，将所述原始滤片制成尺寸与待测定物质相匹配的最终滤片，其中将一种或多种待测元素的标准液置于所述载体上。本发明能够对任意基体材料的样品进行快速而准确的测试，克服X射线荧光光谱仪的缺陷之一，即一般需要针对待测基体如塑料、土壤等先用相应基体的标准物质如塑料、土壤等先对仪器校准后方可使用的限制，不需要基体标准物质校准仪器，直接测定，成本低，方便快捷。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
