在磁共振设备中控制磁共振测量过程的方法和装置
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- 阿尔托·斯泰默
- 申请号：
- CN201010180937.3
- 公开号：
- CN101887109B
- 申请日:
- 2010.05.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种在磁共振设备中用于控制MR测量过程的方法和装置。在此采集检查对象(O)的预定的体积片段(15)的MR信号。在所述MR测量中激励和/或测量预定的体积片段(23)的多个层(22)，其中，在检查台连续移动的情况下工作。在所述MR测量中重复地在不同的测量位置Pi上按照与测量位置Pi的号相应的顺序分别先后测量在磁共振设备(5)的有效体积(24)中的多个层(22)的每一个。从在磁共振设备(5)的有效体积(24)中任意地选择的第一测量位置P1出发通过以下等式来确定所述测量位置Pi：。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
