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眼底検査装置
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
NANBARA TAKAHIRO,南原 孝啓,IWATA SHINYA,岩田 真也
申请号:
JP2011286296
公开号:
JP2013132502A
申请日:
2011.12.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a fundus examination apparatus which efficiently carries out a fundus examination.SOLUTION: The fundus examination apparatus comprises a display section for displaying a taken fundus image of a patients eye, an index presenting optical system having an index presenting section for projecting an examination index on a fundus, a fundus observation optical system having an imaging element for imaging the fundus of the patients eye, an examination condition setting means which uses the fundus image displayed on the display section as a reference image and sets a presentation position and presentation region of the examination index with respect to the reference image, an examination condition changing means for changing the presentation position or the presentation region of the examination index set by the examination condition setting means, and a control means for driving and controlling the index presentation section on the basis of the presentation condition of the examination index set by the examination condition changing means.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】 効率よく眼底の視野検査を行える眼底検査装置を提供する。【解決手段】眼底検査装置は、撮影された患者眼の眼底画像が表示される表示部と、眼底に検査視標を投影するための視標呈示部を備える視標呈示光学系と、患者眼の眼底を撮像するための撮像素子を備える眼底観察光学系と、表示部に表示される眼底画像を基準画像とし基準画像に対する検査視標の呈示位置及び呈示領域を定めるための検査条件設定手段と、検査条件設定手段で設定された検査視標の呈示位置又は呈示領域を変更するための検査条件変更手段と、検査条件変更手段で設定された検査視標の呈示条件に基づき視標呈示部を駆動制御する制御手段とを備える。【選択図】 図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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