一种X射线锥束计算机层析成像系统的几何参数标定方法
- 专利权人:
- 清华大学
- 发明人:
- 王广志,王梦蛟,丁辉
- 申请号：
- CN201210148432.8
- 公开号：
- CN102743184A
- 申请日:
- 2012.05.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明是一种X射线锥束计算机层析成像系统的几何参数标定方法，属于X射线锥形束计算机层析成像系统（简称锥束CT）领域，本发明通过相机标定技术来复现锥束CT系统中的X射线源、平板探测器和转轴之间的几何位置关系，从而对锥束CT的几何参数及其误差进行直接求解，是一种系统化的测量求解方法，可以将锥束CT抽象为基本的相机系统模型，从而同时求解系统中相互关联的多个几何参数，与现有标定方法相比，不需要逐个测量几何参数和逐个参数地反复调整，这样就大大简化了整个系统的标定测量的复杂程度，同时也提高了锥束CT几何标定的稳定性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
