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MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD
专利权人:
ARKRAY, INC.;ARKRAY; INC.;아크레이 인코퍼레이티드
发明人:
FUKUDA KAZUO,후쿠다 가즈오,MATSUDA HIROKAZU,마츠다 히로카즈,OKAMI AKIKO,오카미 아키코,FUKUDA KAZUOJP,MATSUDA HIROKAZUJP,OKAMI AKIKOJP
申请号:
KR1020170050408
公开号:
KR1020170045743A
申请日:
2017.04.19
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
The present invention provides a measurement apparatus to simply acquire a measurement value from a response to a signal applied to a specimen, and a measurement method. According to the present invention, the measurement apparatus (1) comprises: a first measurement unit (31) to measure a first electric response for a first signal inputted to a pair of first electrodes capable of being in contact with a specimen; a second measurement unit (31b) to measure a second electric response for a second signal which is the second signal inputted to a pair of second electrodes capable of being in contact with the specimen, has a value changed into a second level from a first level, and then maintains the second level for a predetermined time, as a peak value of a response signal about a change of the second signal; and a control unit (33) to correct a value expressing the amount of a component to be measured of the specimen from the first electric response based on the peak value of the response signal.(과제) 시료에 인가한 신호에 대한 응답으로부터 측정치를 얻는 장치 및 방법을, 보다 간소화한다.(해결 수단) 측정 장치(1)는, 시료에 접촉 가능한 제1의 전극쌍에 대해 입력된 제1 신호에 대한 제1 전기적 응답을 측정하는 제1 측정부(31a)와, 상기 시료에 접촉 가능한 제2의 전극쌍에 대해 입력된 제2 신호이며, 제1의 레벨에서 제2의 레벨로 값이 변화하고, 그 후, 일정 시간, 상기 제2의 레벨을 유지하는 제2 신호에 대한 제2 전기적 응답을, 상기 제2 신호의 상기 변화에 대한 응답 신호의 피크치로서 측정하는 제2 측정부(31b)와, 상기 응답 신호의 피크치에 의거해, 제1 전기적 응답으로부터 얻어지는 상기 시료의 측정 대상 성분의 양을 나타내는 값을 보정하는 제어부(33)를 구비한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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