結晶相定量分析装置、結晶相定量分析方法、及び結晶相定量分析プログラム
- 专利权人:
- 株式会社リガク
- 发明人:
- 虎谷 秀穂,姫田 章宏
- 申请号：
- JP20170541896
- 公开号：
- JPWO2017149913(A1)
- 申请日:
- 2016.12.22
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 選択されるＸ線光学系の測定をユーザが容易に理解することが可能なＸ線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラムの提供。試料に含まれる複数の結晶相の情報を取得する定性分析結果取得手段と、複数の結晶相における、ローレンツ−偏向因子に対する補正が施された回折強度の和と、化学式量と、化学式単位に含まれる原子それぞれに属する電子の個数の２乗の和と、に基づいて、前記複数の結晶相の重量比を計算する重量比計算手段と、を備える。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
