用于测量光学系统的特性的方法和装置
- 专利权人:
- 艾科股份有限公司
- 发明人:
- N·塞皮恩斯,J·塞里
- 申请号：
- CN202010144647.7
- 公开号：
- CN111649913A
- 申请日:
- 2020.03.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 公开的实施例可以包括用于提供低成本设备的设备、系统和方法，该设备可以通过附接到智能手机非常精确地测量屈光不正。所公开的设备可以通过利用逆Shack‑Hartman技术在模拟视光师使用的十字柱镜过程中使用环境光或光源。光学装置可包括小透镜和小孔的阵列，其将迫使用户有效地聚焦在不同深度。使用光学设备并结合智能手机，用户首先改变轴的角度，直到他/她看到十字图案(垂直线和水平线等距隔开)为止。用户通常使用智能手机上的控件来调整显示，以使线汇合并重叠，这相当于使视图成为清晰的焦点，从而为用户确定适当的光学处方。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
