An endoscope system 1 comprises a head unit 4a, a connector unit 4c, and a CCU 5. The head unit 4a includes a test signal generation unit 12 which generates a first test pattern signal. The connector unit 4c includes a test signal generation unit 22 which generates a second test pattern signal which is the same pattern signal as a first test pattern, a first comparison circuit which outputs a result of comparison obtained by comparing the first test pattern signal and the second test pattern signal, and a test signal generation unit 24 which generates a third test pattern signal. The CCU 5 includes a test signal generation unit 32 which generates a fourth test pattern signal which is the same pattern signal as a third test pattern and a second comparison circuit which outputs a result of comparison obtained by comparing the third test pattern signal and the fourth test pattern signal.Linvention concerne un système dendoscope (1) qui comprend une unité tête (4a), une unité connecteur (4c), et une CCU (5). Lunité tête (4a) comprend une unité de génération de signal dessai (12) qui génère un premier signal de motif dessai. Lunité connecteur (4c) comprend une unité de génération de signal dessai (22) qui génère un deuxième signal de motif dessai qui est le même signal de motif que pour un premier motif dessai, un premier circuit de comparaison qui délivre en sortie un résultat de comparaison obtenu par comparaison du premier signal de motif dessai au deuxième signal de motif dessai, et une unité de génération de signal dessai (24) qui génère un troisième signal de motif dessai. La CCU (5) comprend une unité de génération de signal dessai (32) qui génère un quatrième signal de motif dessai qui est le même signal de motif que pour un troisième motif dessai, et un second circuit de comparaison qui délivre en sortie un résultat de comparaison obtenu par comparaison du troisième signal de motif dessai au quatrième signal de motif dessai.内視鏡システム1は、ヘッド部4aと、コネクタ部4cと、CCU5と有する。ヘッ
