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PROCÉDÉ DE COMMUTATION DE MODE D'EXAMEN ET DISPOSITIF À ULTRASONS
专利权人:
深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司;SHENZHEN MINDRAY SCIENTIFIC CO., LTD.;深圳迈瑞科技有限公司;SHENZHEN MINDRAY BIO-MEDICAL ELECTRONICS CO., LTD.
发明人:
YUAN, Haifeng,袁海峰
申请号:
CNCN2018/098494
公开号:
WO2020/024255A1
申请日:
2018.08.03
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
Disclosed are an examination mode switching method and an ultrasound device, used for improving operation efficiency. The examination mode switching method comprises: receiving a first operation instruction; in response to the first operation instruction, generating a first interface, wherein the first interface comprises at least one piece of ultrasound probe information, the ultrasound probe information comprises the type of an ultrasound probe and an examination mode corresponding to the type of the ultrasound probe, and the examination mode corresponding to the type of the ultrasound probe comprises at least one examination mode with use frequency exceeding a first threshold value; receiving a second operation instruction; in response to the second operation instruction, determining a first target examination mode corresponding to a first target ultrasound probe from the at least one piece of ultrasound probe information; and switching to the first target examination mode corresponding to the first target ultrasound probe.L'invention concerne un procédé de commutation de mode d'examen et un dispositif à ultrasons, utilisé pour améliorer l'efficacité de fonctionnement. Le procédé de commutation de mode d'examen comprend : la réception d'une première instruction de fonctionnement ; en réponse à la première instruction de fonctionnement, la génération d'une première interface, la première interface comprenant au moins une information de sonde à ultrasons, les informations de sonde à ultrasons comprenant le type de sonde à ultrasons et un mode d'examen correspondant au type de la sonde à ultrasons, et le mode d'examen correspondant au type de la sonde à ultrasons comprend au moins un mode d'examen avec une fréquence d'utilisation dépassant une première valeur seuil ; la réception d'une seconde instruction de fonctionnement ; en réponse à la seconde instruction de fonctionnement, la détermination d'un premier mode d'examen cible correspondant à une première sonde à u
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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