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傾斜された位相格子構造
专利权人:
カールスルーアー・インスティトゥート・フュア・テヒノロギー
发明人:
ユルゲン モーア,フランツ プファイファー,エレナ レズニコヴァ,ウラディミール ナズモフ
申请号:
JP2013514700
公开号:
JP2013528454A
申请日:
2011.06.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
Grating interferometer with a phase grating structure is tilted, as well as in applications to an interferometer based on the Talbot effect, the present invention relates to a method for increasing the sharpness of the phase contrast image. In the phase grating, the grating structure is disposed on the substrate of the phase grating is tilted. The present invention relates to the use and the corresponding method for producing a grating structure that is tilted on the substrate of the phase grating more.本発明は、傾斜された位相格子構造を備えた格子干渉計、並びに、タルボ効果を基礎とする干渉計乃至用途において、位相コントラスト像のシャープさを高めるための方法に関する。位相格子において、格子構造は傾斜された位相格子の基板上に配置されている。更に本発明は、位相格子の基板上に傾斜された格子構造を製造するための方法及び相応の使用に関する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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