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PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE CORRECTION D'IMAGE
专利权人:
Carl Zeiss Meditec AG;Carl Zeiss Meditec AG
发明人:
POMRAENKE, Robert,BERGT, Michael,HAMANN, Thomas,EBERSBACH, Ralf
申请号:
EP18720556.2
公开号:
EP3644888A1
申请日:
2018.04.19
申请国别(地区):
EP
年份:
2020
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur einer Abbildung, die auf einer Untersuchung eines Targets (900) mit einem Untersuchungsstrahl einer Vorrichtung für die optische Kohärenztomographie basiert, wobei sich die optische Weglänge und/oder die Polarisation des Untersuchungsstrahls zum und/oder vom Target während der Erzeugung der Abbildung diskret oder kontinuierlich verändert. Die Erfindung betrifft weiterhin ein ophthalmologisches Untersuchungssystem und eine Korrektureinheit. Ihre Aufgabe ist es, ein Verfahren und entsprechende Systeme aufzuzeigen, mit denen in einem Untersuchungssystem, in der eine optische Weglänge und/oder eine Polarisation eines Untersuchungsstrahls zum Target veränderlich ist, eine nichtmodifizierte und also unverfälschte Abbildung (einer Struktur) eines Targets erzeugt werden kann. Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren und entsprechende Systeme, in denen die bekannten oder gemessenen Änderungen zur Einstellung eines verstellbaren Korrekturelements oder aber zur direkten Korrektur der Abbildung bzw. der Bilddaten der Abbildung verwendet wird, derart, dass der Einfluss der Änderung der optischen Weglänge des Untersuchungsstrahls zum und/oder vom Target und/oder ihrer Polarisation auf die Abbildung ausgeglichen wird.The invention relates to a method for correcting an image, which is based on an examination of a target (900) by an examining beam of a device for optical coherence tomography, wherein the optical path length and/or the polarization of the examining beam changes discretely or continuously to and/or from the target during generation of the image. The invention further relates to an ophthalmological examination system and to a correction unit. The problem addressed by the invention is that of describing a method and corresponding systems by means of which an unmodified and thus non-falsified image (of a structure) of a target can be generated in an examination system, wherein an optical path length and/or a polariz
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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