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X射线成像装置和方法
专利权人:
株式会社福微视
发明人:
成勇学,金泰均
申请号:
CN201280019561.5
公开号:
CN103796586A
申请日:
2012.10.30
申请国别(地区):
CN
年份:
2014
代理人:
摘要:
本发明提供一种X射线成像装置和方法。当使用通过检测从X射线发生器发射的X射线产生的自动曝光请求信号来捕获X射线图像时,所述X射线成像装置和方法可以验证所述自动曝光请求信号的有效性,从而防止因振动、温度变化、噪声等而非预期地产生自动曝光请求信号。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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