BIERLMAIER, Stephen,CHRISTIE, Michael,COURVOISIER, Laurent,FIELD, R. Scott,HALTIWANGER, R. Curtis,HE, Linli,JACOBS, Martin J.,KRESS, Michael,MCKEAN, Robert E.,MOWREY, Dale R.,PETRAITIS, Joseph,YAZDANI
申请号：
ES10750210
公开号：
ES2572652T3
申请日:
2010.08.25
申请国别(地区):
ES
年份:
2016
代理人:
摘要：
Crystalline form of Compound I having Formula ** Formula ** wherein the crystalline form is: (A) a. Form A0 is characterized by a powder X-ray diffraction pattern comprising one or more of the following peaks: 4.32, 6.07, 8.55, 12.07 and 15.37 ± 0.2 degrees 2-theta； or (B) a. Form HC0 is characterized by a powder X-ray diffraction pattern comprising one or more of the following peaks: 8.36, 8.71, 16.69, 17.39 and 24.59 ± 0.2 degrees 2-theta； or b. Form HD0 is characterized by a powder X-ray diffraction pattern comprising one or more of the following peaks: 7.60, 8.99 and 15.16 ± 0.2 degrees 2-theta； or a mixture of these.Forma cristalina del Compuesto I que tiene la Fórmula**Fórmula** en donde la forma cristalina es: (A) a. la Forma A0 se caracteriza por un patrón de difracción de rayos X de polvo que comprende uno o más de los siguientes picos: 4.32, 6.07, 8.55, 12.07 y 15.37 ± 0.2 grados 2-theta； o (B) a. la Forma HC0 se caracteriza por un patrón de difracción de rayos X de polvo que comprende uno o más de los siguientes picos: 8.36, 8.71, 16.69, 17.39 y 24.59 ± 0.2 grados 2-theta； o b. la Forma HD0 se caracteriza por un patrón de difracción de rayos X de polvo que comprende uno o más de los siguientes picos: 7.60, 8.99 y 15.16 ± 0.2 grados 2-theta； o una mezcla de estos.
