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X射线诊断装置以及断层合成摄影方法
专利权人:
发明人:
小林由昌,菅原靖宏,西塚诚一,福崎武宏,佐藤大辅,小高达昭,佐藤谅骏,前滨登美男
申请号:
CN202210980140.4
公开号:
CN115702798A
申请日:
2022.08.16
申请国别(地区):
CN
年份:
2023
代理人:
摘要:
本发明涉及X射线诊断装置以及断层合成摄影方法。本说明书以及附图所公开的实施方式涉及X射线诊断装置以及断层合成摄影方法,减少断层合成图像的伪影。实施方式的X射线诊断装置具备X射线照射部、散射部、透射部以及检测部。X射线照射部照射X射线。散射部设置在X射线照射部与被检测体之间,使所照射的X射线散射。透射部设置在散射部与被检测体之间,使散射后的X射线中的规定角度范围的X射线透射。检测部将透射了被检测体的X射线与该X射线的入射角度一起进行检测。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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