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用于计算针对晶间事件的响应线的PET成像系统和方法
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- 金昌龙
- 申请号：
- CN201910296864.5
- 公开号：
- CN110368011A
- 申请日:
- 2019.12.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于计算响应线(LOR)的正电子发射断层扫描(PET)成像系统和方法,包括访问PET检测器的泛洪图以及识别对应于第一晶体的泛洪图中的第一区域。所述系统和方法包括识别对应于第二晶体的泛洪图中的第二区域。所述系统和方法包括生成查找表(LUT),其中所述LUT将所述第一区域内的位置与所述第一晶体相关联并将所述第二区域内的位置与所述第二晶体相关联。所述系统和方法包括检测具有在所述第二区域中的经能量加权的位置的事件。所述系统和方法包括:基于所述经能量加权的位置将所述事件识别为晶间事件;为所述事件分配所述第一晶体中的相互作用点;以及使用所述第一晶体中的所述相互作用点来计算针对所述事件的所述LOR。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
