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Absolute Position Measuring Device and a Method of Performing an Absolute Position Measurement
专利权人:
发明人:
Paul Louis Maria Joseph van Neer,Michiel Peter Oderwald,Maurits Sebastiaan van der Heiden
申请号:
US16026274
公开号:
US20180328802A1
申请日:
2018.07.03
申请国别(地区):
US
年份:
2018
代理人:
摘要:
The invention relates to an absolute position measuring device, comprising an optical fiber, an optical strain sensor in optical communication with the optical fiber, and a volume of material deforming under influence of a magnetic field. The optical strain sensor is arranged for sensing deformation of the volume of material. Further, the device is arranged for multi-dimensional position measurement.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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