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用于估算采样组织参数的方法及用于采样组织的多参数评估的系统
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- 卡尤里·班纳吉·克里什南,尼辛·纳加拉杰,程刚,韩晓东,叶雯婷
- 申请号：
- CN201510794987.3
- 公开号：
- CN106691512B
- 申请日:
- 2015.18.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了用于估算采样组织参数的方法,其包括通过使用具有一种采集频率的超声探头和一种采集协议来获得来自采样组织中的第一感兴趣区域和第二感兴趣区域的超声回波信号,并且,基于来自第一和第二感兴趣区域的超声回波信号并使用一种参考仿体来估算出采样组织的一个或多个参数。本发明还公开了用于采样组织的多参数评估的系统,其包括估算模块和评分计算模块。估算模块用于使用上述方法来估算出采样组织的第一参数和第二参数。评分计算模块用于基于采样组织的包括第一参数和第二参数的多个参数来计算出采样组织的定量评分,定量评分代表采样组织的一个或多个特性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
