The present invention relates to a method for detecting a surface structure and a property of a sample by using a scanning device (2), in particular a mark caused by contact of a surface of an object with a skin of a human body or by using a mark carrier, ) And the scanning device 2 move relative to each other and the sample surface is irradiated on a line by line basis with a light beam or a laser beam L emitted by the scanning device 2 and the light beam reflected by the sample surface The laser beam R is sensed and a digital image of the intensity of the reflected light beam or laser beam R of the topography of the sample surface and the surface of the sample is applied to the reflected light beam or laser beam R ) From the emitted light beam or laser beam (L).본 발명은 스캐닝 장치(2)를 이용하여 표면 구조 및 샘플의 속성, 특히 인체의 피부와 물체의 표면의 접촉에 의해서 야기되거나 마크 캐리어를 이용하여 수신되는 마크를 감지하기 위한 방법으로서, 샘플(P) 및 스캐닝 장치(2)는 서로에 대해서 운동하고, 샘플 표면은 스캐닝 장치(2)에 의해 방출되는 광 빔 또는 레이저 빔(L)으로 라인 단위로 조사되며, 샘플 표면에 의해 반사되는 광 빔 또는 레이저 빔(R)이 감지되고, 샘플 표면의 속성을 제공하기 위해서, 샘플 표면의 토포그래피 및 반사된 광 빔 또는 레이저 빔(R)의 세기의 디지털 이미지가, 반사된 광 빔 또는 레이저 빔(R)의 방출된 광 빔 또는 레이저 빔(L)으로부터의 편차로부터 생성되는, 방법에 관한 것이다.
