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APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING SNOW ALBEDO BY REFLECTING STRUCTURAL FEATURES OF VEGETATION AFTER END OF GROWTH
专利权人:
EWHA UNIVERSITY - INDUSTRY COLLABORATION FOUNDATION;이화여자대학교 산학협력단
发明人:
PARK, SEON KI,박선기,PARK, SO JUNG,박소정
申请号:
KR1020170065484
公开号:
KR1020180129443A
申请日:
2017.05.26
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
Disclosed are an apparatus for deciding snow albedo reflecting structural characteristic of vegetation after growth and a method thereof. The method for deciding the snow albedo can comprise following steps of: deciding Leaf Index (LI) using Leaf Area Index (LAI) and area of non-photosynthetic leaf in the vegetation; deciding Stem Index (SI) using an area of a non-photosynthetic branch in the vegetation and Stem Area Index (SAI); and deciding the snow albedo using the LI and the SI.생장이 종료된 식생의 구조적 특징을 반영한 눈 알베도 결정 장치 및 그 방법이 개시된다.눈 알베도 결정 방법은 식생에서 광합성 하지 않는 잎의 면적과 엽 면적 지수(LAI: Leaf Area Index)를 이용하여 잎 지수(LI: Leaf Index)를 결정하는 단계; 식생에서 광합성 하지 않는 가지의 면적과 줄기 면적 지수 (SAI: Stem Area Index)를 이용하여 줄기 지수(SI: Stem Index)를 결정하는 단계; 및 상기 잎 지수와 상기 줄기 지수를 이용하여 눈 알베도(snow albedo)를 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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