Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Optimierung einer Schichtorientierung für eine Untersuchung mittels einer Magnetresonanzvorrichtung, eine Magnetresonanzvorrichtung und ein Computerprogrammprodukt. Demnach umfasst das Verfahren folgende Schritte: Es wird zumindest eine Gerätelimitation der Magnetresonanzvorrichtung bereitgestellt, wobei die zumindest eine Gerätelimitation für zumindest eine der einen oder mehreren Gradientenachsen eine maximale Gradientenstärke und/oder eine maximale Gradientenanstiegsrate umfasst. Ferner werden zumindest ein Messparameterwert der Untersuchung und eine ursprüngliche Schichtorientierung bereitgestellt. Anhand der zumindest einen Gerätelimitation und des zumindest einen Messparameterwertes und der ursprünglichen Schichtorientierung wird eine Rotationswinkelinformation ermittelt. Die ursprüngliche Schichtorientierung wird anhand der Rotationswinkelinformation optimiert und es werden Messdaten mittels der Magnetresonanzvorrichtung anhand der optimierten Schichtorientierung aufgenommen.The invention relates to a method for optimizing a slice orientation for examination by means of a magnetic resonance apparatus, a magnetic resonance apparatus and a computer program product. Accordingly, the method comprises the following steps: At least one device imitation of the magnetic resonance apparatus is provided, wherein the at least one device imitation comprises at least one of the one or more gradient axes a maximum gradient strength and / or a maximum gradient increase rate. Furthermore, at least one measurement parameter value of the examination and an original slice orientation are provided. On the basis of the at least one device limitation and the at least one measurement parameter value and the original slice orientation, a rotation angle information is determined. The original slice orientation is optimized on the basis of the rotational angle information, and measurement data are recorded by means of the magnetic resonance
