一种基于k空间能谱分析的磁共振温度修正方法及系统
- 专利权人:
- 上海沈德医疗器械科技有限公司;南通沈德医疗器械科技有限公司;沈德(宁波)医疗器械科技有限公司
- 发明人:
- 郑浩伦,苏志强,沈学英,田周,温家宝,吴昊,卢华鑫,乔杉,崔磊,陶健
- 申请号：
- CN202010894120.6
- 公开号：
- CN112156383A
- 申请日:
- 2020.08.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2021
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种基于k空间能谱分析的磁共振温度修正方法及系统，该方法具体为：在磁共振的k空间数据矩阵上逐行填充零值，每填充一行零值后均对填充后的k空间数据矩阵进行一次傅立叶反变换，对应获得一张重构图像；根据每个像素点在所有重构图像中的像素强度以及填充零值的行数绘制像素强度变化曲线图，根据像素强度变化曲线图获取回波误差，计算实际回波时间，根据各个像素点的TE计算对应的温度变化值。与现有技术相比，本发明具有计算简便、效率高和鲁棒性好等优点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
