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PROCÉDÉS ET DISPOSITIFS POUR DÉTECTER UNE INTENSITÉ DE LUMIÈRE AVEC UN DÉTECTEUR TRANSLUCIDE
专利权人:
CERCACOR LABORATORIES; INC
发明人:
PAULEY, Kevin,DALVI, Christiano,VO, Hung,CHEN, Jesse,LESMANA, Ferdyan,POEZE, Jeroen,MERRITT, Sean
申请号:
USUS2017/067909
公开号:
WO2018/119239A1
申请日:
2017.12.21
申请国别(地区):
US
年份:
2018
代理人:
摘要:
An optical measurement device includes a light source, a first detector, and a second detector. The light source emits light to a measurement site of a patient and one or more detectors detect the light from the light source. At least a portion of a detector is translucent and the light passes through the translucent portion prior to reaching the measurement site. A detector receives the light after attenuation and/or reflection or refraction by the measurement site. A processor determines a light intensity of the light source, a light intensity through a tissue site, or a light intensity of reflected or refracted light based on light detected by the one or more detectors. The processor can estimate a concentration of an analyte at the measurement site or an absorption or reflection at the measurement site.La présente invention concerne un dispositif de mesure optique qui comprend une source de lumière, un premier détecteur et un deuxième détecteur. La source de lumière émet de la lumière vers un site de mesure d'un patient et un ou plusieurs détecteurs détectent la lumière provenant de la source de lumière. Au moins une partie d'un détecteur est translucide et la lumière traverse la partie translucide avant d'atteindre le site de mesure. Un détecteur reçoit la lumière après l'atténuation et/ou la réflexion ou réfraction par le site de mesure. Un processeur détermine une intensité lumineuse de la source de lumière, une intensité lumineuse à travers un site tissulaire, ou une intensité lumineuse de lumière réfléchie ou réfractée sur la base de la lumière détectée par les un ou plusieurs détecteurs. Le processeur peut estimer une concentration d'un analyte au niveau du site de mesure ou une absorption ou réflexion au niveau du site de mesure.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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