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纳米粉体材料紫外屏蔽性能评估方法
专利权人:
华东师范大学
发明人:
金利通,陈俊水,张继东,刘梅川,张文,鲜跃仲,朱民,施国跃
申请号:
CN03114952.9
公开号:
CN1431481A
申请日:
2003.01.17
申请国别(地区):
中国
年份:
2003
代理人:
程宗德
摘要:
一种纳米粉体材料紫外屏蔽性能评估方法,属于材料性能评估技术领域,操作步骤包括虹吸器的制备、待评估纳米粉体材料分散体系的建立、本底的建立、待评估的纳米粉体材料紫外屏蔽曲线的测定和紫外屏蔽性能评估。选择乙二醇为分散剂,利用虹吸技术进行自动涂膜,具有较高的准确度和良好的重现性,成本低,分析测试速度快,和数据重现性好。本发明所述的评估方法,不仅能评估纳米粉体材料紫外屏蔽性能,还能对新纳米粉体材料的开发与表征提供可靠的评估手段;同时本发明为日用化学工业筛选合适的紫外屏蔽剂提供了重要的参考依据,在材料和日用化工等领域有着广阔的应用前景。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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