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一种耳片连接件疲劳裂纹扩展的试验分析方法
- 专利权人:
- 中国人民解放军空军工程大学
- 发明人:
- 何宇廷,伍黎明,安涛,王卓健,周瑞祥,张登成,郭基联
- 申请号：
- CN201010507943.5
- 公开号：
- CN102023116A
- 申请日:
- 2010.10.14
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2011
- 代理人:
- 王鲜凯
- 摘要：
- 本发明涉及一种耳片连接件疲劳裂纹扩展的试验分析方法，技术特征在于：将试验耳片的安装在试验机上，然后在耳片上加载制造疲劳裂纹，采用直耳片受纵向拉载、直耳片受小于45°斜载、对称斜耳片受纵向拉载、对称斜耳片受小于45°斜载、非对称斜耳片受纵向拉载、非对称斜耳片受小于45°斜载的应力强度因子求得相应的ΔK，以lg(da/dN)-lg(ΔK)线的斜率为Paris公式中的常数n，直线与y轴截距即为Paris公式中的常数C，得到应力比R时耳片的Paris式；根据得到的Paris公式估算耳片疲劳裂纹扩展寿命NC。本发明适用性广，对于研究各种受载条件下的耳片孔边疲劳裂纹扩展特性有一定的指导作用。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
