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光学生物体测量装置以及分析方法
- 专利权人:
- 株式会社岛津制作所
- 发明人:
- 石川亮宏
- 申请号：
- CN201080009449.4
- 公开号：
- CN102333489A
- 申请日:
- 2010.01.12
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 提供一种能够从观测信号中去除与不必要成分对应的信号的光学生物体测量装置。具备从观测信号中去除与不必要成分对应的信号来生成不必要成分去除观测信号的运算部(5)的光学生物体测量装置(1)的特征在于，运算部(5)具备：混合矩阵生成部(51)，其通过独立成分分析将多个观测信号分离为混合矩阵与多个独立成分信号之积；功率谱计算部(52)，其通过对作为时间和强度的函数的多个独立成分信号进行傅立叶变换，来生成作为频率和强度的函数的多个变换独立成分信号，并分别计算各变换独立成分信号中的规定的频带的功率谱；以及不必要成分信号决定部(53)，其通过将各变换独立成分信号中的规定的频带的功率谱分别与阈值进行比较，来从多个独立成分信号中找出与不必要成分对应的独立成分信号。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
