用于在磁共振数据中确定横向松弛时间T2*的方法
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- 斯蒂芬·塞森
- 申请号：
- CN200610064305.4
- 公开号：
- CN101063712B
- 申请日:
- 2006.12.20
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及在MR数据中用下述步骤确定横向松弛时间T2*的方法：采集测量体积内时间上变化的横向磁化并从测量体积内的磁化时间变化确定横向松弛时间。为能够可靠地确定横向松弛时间T2*，执行下述步骤：测定测量体积中的局部磁场并取决于局部磁场校正松弛时间，以便产生校正后的横向松弛时间，其中局部磁场通过下述步骤测定：在多个预定的回波时间(TE)内测定磁化的相位变化，其中回波时间具有彼此不同的间隔(ΔTE)，并从磁化的相位变化中确定局部磁场，其中在测量体积内的至少一个位置如此匹配回波时间之间的间隔(ΔTE)，使得可以在无相位转换的条件下确定局部磁场。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
