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表征患者对治疗性电离辐射的放射敏感性和组织反应的预测方法
专利权人:
克劳德贝尔纳里昂第一大学
发明人:
尼古拉斯·福雷,阿德琳·格兰佐托,克莱芒·德维克
申请号:
CN201580009031.6
公开号:
CN106255883B
申请日:
2015.16.02
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明涉及一种表征细胞样品对电离辐射的细胞反应的方法,所述细胞样品取自患者未经辐照或只经轻微辐照的区域内的细胞,所述方法包括以下步骤:(i)扩增所述取样的细胞,所述扩增的细胞构成“细胞样品”;(ii)在所述细胞样品上,在观测时间t,通过标记物pH2AX、pATM和MRE11中的至少两个确定得到的核灶平均数(所述平均数分别称为NpH2AX(t)、NpATM(t)、NMRE11(t)),(所述观测时间t为时间t=0分钟(称为t0,未经辐照状态)以及用吸收剂量D辐照后,选自t=t1、t2、t3和t4中的至少一个观测时间;(iii)确定选自由以下各项构成的组中的至少一个参数:根据CTCAE分类的放疗后组织反应的严重等级,通过至少使用平均数NpH2AX(t)和NpH2AX(tx),其中tx为t4(优选的)或者为t3;样品放射敏感性分类,通过至少使用平均数NpH2AX(t)、NpATM(t)和NMRE11(t);并且在该方法中:t4是固定值,表示DNA断裂率达到其残基值时的时间;t3和t2固定值,分别表示在取自抗放射性患者的对照组细胞中,大约25%和50%DSB修复结束的时间;t1是固定值,表示在取自抗放射性患者的对照组细胞中,识别的DSB数量达到最大值后的时间。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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