光扫描装置的扫描轨迹测定方法、扫描轨迹测定装置和图像校准方法
- 专利权人:
- 奥林巴斯株式会社
- 发明人:
- 双木满
- 申请号：
- CN201580077863.1
- 公开号：
- CN107430270A
- 申请日:
- 2015.03.25
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 提供如下的光扫描装置的扫描轨迹测定装置:能够容易地减轻杂散光的影响而提高扫描轨迹的测定精度。一种光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置,通过照明光对被照射物进行扫描而生成该被照射物的显示图像,其中,该光扫描装置(100)的扫描轨迹测定装置具有:屏幕(11),其被照明光扫描;以及光位置检测器(12),其检测屏幕(11)上的照明光的照射光点的位置,在屏幕(11)的扫描中通过光位置检测器(12)在规定的多个时间点依次检测照射光点的位置而测定照明光的扫描轨迹。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
