The present invention removes or reduces, from measurement values detected by a photon-counting detector, the amount of impact caused by physical phenomena such as beam hardening, etc., on X-ray attenuation, for each energy BIN. Characteristics of an X-ray attenuation amount μt defined by a plurality of known thicknesses t and a relevant ray attenuation coefficient μ are obtained for each X-ray energy BIN on the basis of measurement values of the photon-counting detector (24), said plurality of known thicknesses t each being different and being in the X-ray transmission direction of a substance. This substance constitutes a target object for imaging, etc., and comprises a raw material that is either the same substance (same type of substance) as the target object or resembles the target object in relation to effective atomic number. Correction data is calculated for replacing these X-ray attenuation amount μt characteristics with linear target characteristics passing through the origin of two-dimensional coordinates having thickness t on the horizontal axis and X-ray attenuation amount μt on the vertical axis. This correction data is calculated for each X-ray energy BIN.La présente invention élimine ou réduit, à partir des valeurs de mesure détectées par un détecteur-compteur de photons, la quantité de choc provoquée par un phénomène physique tel que le durcissement du faisceau, etc., sur l'atténuation des rayons X, pour chaque BIN d'énergie. Les caractéristiques de la quantité d'atténuation des rayons X μt définies par une pluralité d'épaisseurs t connues et un coefficient d'atténuation des rayons µ pertinent sont obtenues pour chaque BIN d'énergie des rayons X sur la base des valeurs de mesure du détecteur-compteur de photons (24), ladite pluralité d'épaisseurs t connues étant chacune différente et dans le sens de transmission des rayons X d'une substance. Cette substance constitue un objet cible pour l'imagerie, etc., et comprend une substance brute qui est soit
