This measurement data selection method: treats a vector comprising measurement data y1 to yN1 obtained for each combination among a plurality of light exit positions, a plurality of light detection positions, and a plurality of time slices in a time-resolved waveform as (1)； treats a vector, which has pixel values of learning-use image data prepared beforehand as examples of internal image data as components, as x； and treats a system matrix for calculating the internal image data on the basis of the measurement data y1 to yN1 as A1. Then, a vector y which satisfies the following conditional expressions (2) and (3) or which satisfies the following conditional expression (4) is obtained by back-calculation. When measuring a subject, the internal image data are created using only measurement data corresponding to non-zero components of the vector y.La présente invention concerne un procédé de sélection de données de mesure, qui : traite un vecteur comprenant des données de mesure (y1 à yN1) obtenues pour chaque combinaison parmi une pluralité de positions de sortie lumineuse, une pluralité de positions de détection de lumière et une pluralité de tranches horaires dans une forme d'onde à résolution temporelle, telle que (1)； traite un vecteur, qui possède des valeurs de pixel de données d'image à utiliser pour l'apprentissage, préparées à l'avance sous forme d'exemples de données d'images internes, en guise de composants, sous la forme x； et traite une matrice de système, afin de calculer les données d'image internes, sur la base des données de mesure (y1 à yN1), sous la forme A1. Ensuite, un vecteur y, qui satisfait les expressions conditionnelles (2) et (3) suivantes ou qui satisfait l'expression conditionnelle (4) suivante est obtenu par rétro-calcul. Lors de la mesure d'un sujet, les données d'image internes sont créées à l'aide uniquement de données de mesure correspondant à des composants du vecteur y différents de zéro.この計測データ選択方法は、複数の光出射位置、複数の光検出位置、及び時間分解波形における
