This measurement data selection method: treats a vector comprising measurement data y1 to yN1 obtained for each combination among a plurality of light exit positions, a plurality of light detection positions, and a plurality of time slices in a time-resolved waveform as (1); treats a vector, which has pixel values of learning-use image data prepared beforehand as examples of internal image data as components, as x; and treats a system matrix for calculating the internal image data on the basis of the measurement data y1 to yN1 as A1. Then, a vector y which satisfies the following conditional expressions (2) and (3) or which satisfies the following conditional expression (4) is obtained by back-calculation. When measuring a subject, the internal image data are created using only measurement data corresponding to non-zero components of the vector y.La présente invention concerne un procédé de sélection de données de mesure, qui : traite un vecteur comprenant des données de mesure (y1 à yN1) obtenues pour chaque combinaison parmi une pluralité de positions de sortie lumineuse, une pluralité de positions de détection de lumière et une pluralité de tranches horaires dans une forme d'onde à résolution temporelle, telle que (1); traite un vecteur, qui possède des valeurs de pixel de données d'image à utiliser pour l'apprentissage, préparées à l'avance sous forme d'exemples de données d'images internes, en guise de composants, sous la forme x; et traite une matrice de système, afin de calculer les données d'image internes, sur la base des données de mesure (y1 à yN1), sous la forme A1. Ensuite, un vecteur y, qui satisfait les expressions conditionnelles (2) et (3) suivantes ou qui satisfait l'expression conditionnelle (4) suivante est obtenu par rétro-calcul. Lors de la mesure d'un sujet, les données d'image internes sont créées à l'aide uniquement de données de mesure correspondant à des composants du vecteur y différents de zéro.この計測データ選択方法は、複数の光出射位置、複数の光検出位置、及び時間分解波形における