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APPAREIL, PROCÉDÉS ET SUPPORTS ACCESSIBLES PAR ORDINATEUR POUR LA RECONSTRUCTION TRIDIMENSIONNELLE IN SITU DES STRUCTURES LUMINALES
专利权人:
The General Hospital Corporation
发明人:
申请号:
EP18770191.7
公开号:
EP3600012A1
申请日:
2018.03.23
申请国别(地区):
EP
年份:
2020
代理人:
摘要:
An apparatus for determining a shape of a luminal sample including: a catheter including a lens, the catheter disposed within a strain-sensing sheath such that the lens rotates and translates; a structural imaging system optically coupled to the catheter; a strain-sensing system optically coupled to the catheter; and a controller coupled to the strain-sensing system and the structural imaging system. The controller determines: a first position of the catheter relative to the luminal sample at a first location within the strain-sensing sheath; a second position of the catheter relative to the luminal sample at a second location within the strain-sensing sheath; a first strain of the strain-sensing sheath at the first location; a second strain of the strain-sensing sheath at the second location; a local curvature of the luminal sample relative to the catheter; a local curvature of the catheter; and a local curvature of the luminal sample.Cette invention concerne un appareil permettant de déterminer la forme d'un échantillon luminal comprenant : un cathéter pourvu d'une lentille, où le cathéter est placé à l'intérieur d'une gaine de détection de contrainte de façon que la lentille soit douée de rotation et translation; un système d'imagerie structurale optiquement couplé au cathéter; un système de détection de contrainte optiquement couplé au cathéter; et un contrôleur couplé au système de détection de contrainte et au système d'imagerie structurale. Le contrôleur détermine : une première position du cathéter par rapport à l'échantillon luminal à un premier emplacement à l'intérieur de la gaine de détection de contrainte; une seconde position du cathéter par rapport à l'échantillon luminal à un second emplacement à l'intérieur de la gaine de détection de contrainte; une première contrainte de la gaine de détection de contrainte au premier emplacement; une seconde contrainte de la gaine de détection de contrainte au second emplacement; une courbure locale de l'échantill
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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