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用于检测基因组中遗传剪刀的脱靶位点的方法
专利权人:
基础科学研究院
发明人:
金晋秀,金大植,裵相洙
申请号:
CN201580067606.X
公开号:
CN107109486A
申请日:
2015.11.13
申请国别(地区):
中国
年份:
2017
代理人:
陈桉
摘要:
本发明涉及用于检测基因组中遗传剪刀的脱靶位点的方法,并且具体来说涉及用于通过数据分析检测脱靶位点的方法,所述方法是通过使在体外分离的基因组经历遗传剪刀处理以裂解该基因组,随后对该基因组进行全基因组测序(消化基因组测序);并且涉及用于使用这种检测方法选择RGEN的靶位点的方法,所述方法将脱靶效应降至最低。本发明的消化基因组测序可在基因组水平上以高度再现性检测遗传剪刀的脱靶位点,并且因此可用于生产具有高靶特异性的遗传剪刀和所述遗传剪刀的研究。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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