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PROCÉDÉ DE RADIOGRAPHIE À CONTRASTE DE PHASE ET EN CHAMP NOIR UTILISANT UN AGENCEMENT DE RÉSEAUX EN GÉOMÉTRIE PLANE
专利权人:
Paul Scherrer Institut
发明人:
申请号:
EP11714508.6
公开号:
EP2585817A1
申请日:
2011.04.04
申请国别(地区):
EP
年份:
2013
代理人:
摘要:
An X-ray arrangement is suitable to record absorption, phase contrast, and dark field images of an object. The visibility of low absorbing specimens is improved and required radiation dose is reduced. The assembly includes an X-ray source; two or more gratings; a position-sensitive detector with spatially modulated detection sensitivity; a recorder for recording the images; an evaluator for evaluating the intensities for each pixel to identify the characteristic of the object for each individual pixel as an absorption and/or a differential phase contrast and/or an x-ray scattering dominated pixel. Images are collected by rotating from 0 to n or 2n either the sample or the assembly. The gratings are produced with planar geometry. The X-rays pass through the gratings parallel to the substrate. The grating structures extend along the X-ray path which determines the phase shift. The attenuation of the X-rays caused by the grating structures is no longer given by the thickness, but by the length of the grating structures.La présente invention concerne un montage de radiographie pouvant s'avérer approprié à l'enregistrement d'absorption, de contraste de phase, et de champ noir d'images d'un objet. L'agencement améliore la visibilité de spécimens à faible absorption, et réduit la dose de radiation requise. L'agencement comprend : a) une source de rayons X ; b) un ensemble d'au moins deux réseaux ; c) un détecteur sensible à la position, ayant une sensibilité de détection modulée spatialement ; d) des moyens d'enregistrement des images du détecteur ; e) des moyens d'évaluation des intensités pour chaque pixel afin d'identifier la caractéristique de l'objet pour chaque pixel individuel sous la forme d'une absorption et/ou d'un contraste de phase différentiel et/ou d'un pixel dominé par diffusion de rayons X ; f) la série d'images est collectée par rotation continue ou pas à pas de 0 à n ou 2n soit de l'échantillon soit de l'agencement par rapport à l'échantillon ; g) les rés
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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