一种校正杂散射线的方法
- 专利权人:
- 上海联影医疗科技股份有限公司
- 发明人:
- 季敏
- 申请号：
- CN201710776974.2
- 公开号：
- CN107595314B
- 申请日:
- 2017.08.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种校正杂散射线的方法，该方法包括获取探测器第一通道上的第一信号；获取探测器第二通道上的第二信号；基于该第二信号，确定来自散射线在该探测器第一通道的第一投影值；以及基于该第一信号和第一投影值，确定主射线在该探测器第一通道上的第二投影值，所述主射线和所述散射线来自于同一射线源。该方法通过校正杂散射线，减少或消除了杂散射线导致的图像伪影，提高了成像的质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
