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X-ray inspection apparatus and method
专利权人:
株式会社IHI検査計測;株式会社IHI検査計測;国立大学法人横浜国立大学
发明人:
長尾 智晴,矢田 紀子,▲高▼田 裕二郎,森田 幹,酒井 康雄,野村 博司
申请号:
JP2012556828
公开号:
JPWO2012108278A1
申请日:
2012.01.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
An X-ray irradiation apparatus 10 that irradiates the object 1 with X-rays from a plurality of directions and captures a plurality of X-ray transmission images with parallax, and an image processing apparatus 20 that inspects the object 1 from the plurality of X-ray transmission images. With. For example, the image processing apparatus using the evolution calculation method determines the correspondence between the edges of the object 1 and both ends of the edges of the object 1 (S2 to S7), and then three-dimensionally measures the position of the object 1 (S8). ).対象物1に対し複数の方向からX線を照射し視差のある複数のX線透過画像を撮像するX線照射装置10と、複数のX線透過画像から対象物1を検査する画像処理装置20とを備える。例えば進化計算法を用いた画像処理装置により、対象物1のエッジの対応付けと、対象物1のエッジの両端を決定し(S2~S7)、次いで対象物1の位置を立体計測する(S8)。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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