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光学測定装置および校正方法
专利权人:
オリンパス株式会社
发明人:
高岡 秀行,伊藤 遼佑
申请号:
JP2013534726
公开号:
JPWO2013042690A1
申请日:
2012.09.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
To provide optical measuring device and a calibration method that can be performed easily calibration process . A first detected intensity when irradiated with illumination light in a first medium by the measurement probe 3 having the same refractive index as the sample S1, a second when it is irradiated with illumination light by the measuring probe 3 to the second medium a recording unit 26 which records the value of the ratio of the detected intensity, the product of the measuring probe 3 and the third detection intensity and the ratio of the values for the recording unit 26 records the time of irradiating the illumination light to the second medium , and a, a calculation unit 271 for calculating the background intensity of the background light to be used for correcting the return light of the illumination light from the sample S1.容易に校正処理を行うことができる光学測定装置および校正方法を提供する。測定プローブ3によって試料S1と同じ屈折率を有する第1の媒質に照明光を照射した際の第1の検出強度と、測定プローブ3によって第2の媒質に照明光を照射した際の第2の検出強度との比の値を記録する記録部26と、測定プローブ3によって第2の媒質に照明光を照射した際の第3の検出強度と記録部26が記録する比の値との積により、試料S1からの照明光の戻り光を補正する際に用いるバックグランド光のバックグランド強度を演算する演算部271と、を備える。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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