SCHILDKRAUT, Jay, S.,INGLESE, Jean-Marc,SUBRAMANYAN, Krishnamoorthy,LOUSTAUNEAU, Vincent
申请号：
USUS2019/068853
公开号：
WO2020/142396A1
申请日:
2019.12.28
申请国别(地区):
US
年份:
2020
代理人:
摘要：
The present disclosure describes methods for calibrating a spectral X-ray system to perform material decomposition with a single scan of an energy discriminating detector or with a single scan at each used X-ray spectrum. The methods may include material pathlengths exceeding the size of the volume reconstructable by the system. Example embodiments include physical and matching calibration phantoms. The physical calibration phantom is used to measure the attenuation of X-rays passing therethrough with all combinations of pathlengths through the calibration's basis materials. The matching digital calibration phantom is registered with the physical calibration phantom and is used to calculate the pathlength though each material for each measured attenuation value. A created data structure includes the X-ray attenuation for each X-ray spectrum or detector energy bin for all combinations of basis material pathlengths. The data structure is usable to perform a material decomposition on the X-ray projection of an imaged object.La présente invention concerne des procédés d'étalonnage d'un système de rayons X spectral pour effectuer une décomposition de matériau avec un balayage unique d'un détecteur de discrimination d'énergie ou avec un balayage unique à chaque spectre de rayons X utilisé. Les procédés peuvent comprendre des longueurs de trajet de matériau dépassant la taille du volume reconstructible par le système. Des exemples de modes de réalisation comprennent des fantômes physiques d'étalonnage et correspondants. Le fantôme physique d'étalonnage est utilisé pour mesurer l'atténuation des rayons X passant à travers celui-ci avec toutes les combinaisons de longueurs de trajet à travers les matériaux de base de l'étalonnage. Le fantôme numérique d'étalonnage correspondant est enregistré avec le fantôme physique d'étalonnage et est utilisé pour calculer la longueur de trajet à travers chaque matériau pour chaque valeur d'atténuation mesurée. Une structure de données cré
