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波形測定表示装置および波形測定表示方法
- 专利权人:
- アンリツ株式会社
- 发明人:
- 横山 裕樹,峰田 香奈
- 申请号：
- JP20160148633
- 公开号：
- JP2018017624(A)
- 申请日:
- 2016.07.28
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】画面更新にかかる負荷を軽減し、より高速に波形表示する。【解決手段】波形測定表示装置１は、対象信号をサンプリングして波形データを生成する波形データ生成部３と、波形データ生成部３にて生成された波形データをサンプル位置毎に積算して更新記憶する記憶部４と、対象信号の波形数、波形データのサンプル数、対象信号のサンプリング時間の何れかを記憶部４に記憶された波形データの読み出し開始条件として設定する設定部２と、対象信号の波形を表示する表示部５と、読み出し開始条件を満たしたときに、記憶部４に記憶された波形データを読み出し、読み出した波形データに基づく波形を表示部５に描画制御する制御部６とを備える。【選択図】図１
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
