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Occlusion pressure analysis device, occlusion pressure analysis program, and occlusion pressure analysis method
专利权人:
가부시키가이샤 지씨
发明人:
노구치 유키에
申请号:
KR1020207008334
公开号:
KR1020200044867A
申请日:
2018.05.17
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要:
It is an object of the present invention to provide an occlusal pressure analysis device that makes it possible to measure occlusal pressure with high positional accuracy using data obtained by a general-purpose method. Based on this, calculate the formula of the first arch form, calculate the formula of the second arch form based on the occlusal contact position data, calculate the transformation matrix that approximates the formula of the first arch form to the formula of the second arch form, and occlusal pressure data The operation of converting the positional information included in the data into new positional information is performed by a transformation matrix, and occlusal pressure data including the corresponding new positional information is output.범용적인 방법에 의해 얻어진 데이터를 사용하여, 높은 위치 정밀도로 교합압을 측정하는 것을 가능하게 하는 교합압 해석 장치를 제공하는 것을 목적으로 하고, 연산 장치를 구비하고, 연산 장치는, 교합압 데이터에 기초하여 제1 치열궁의 식을 산출하고, 교합 접촉 위치 데이터에 기초하여 제2 치열궁의 식을 산출하고, 제1 치열궁의 식을 제2 치열궁의 식에 근사시키는 변환 행렬을 산출하고, 교합압 데이터에 포함되는 위치 정보를 변환 행렬에 의해, 새로운 위치 정보로 변환하는 연산을 행하고, 해당하는 새로운 위치 정보를 포함하는 교합압 데이터를 출력한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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