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用于检查组织试样的方法和设备
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- I.芬克,D.费舍
- 申请号：
- CN201410398556.0
- 公开号：
- CN104414673B
- 申请日:
- 2014.08.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于检查组织试样的方法，包括以下特征：借助活检在取样点(9)取出组织试样(8)，将组织试样输送到在取样点外部的位置，将组织试样定位在取样点外部由X射线(2)检测的区域内，实施以X射线为基础的3D监控照相，根据取样点和组织试样共同的投影，重建X射线断层照片的数据组，显示重建的X射线断层照片。本发明还涉及一种用于检查组织试样的设备，具有：X射线装置，它有X射线源(1)和X射线探测器(6)；用于检查对象(3)的支承板(5)和加压板(4)；活检装置，包括用于在取样点取出组织试样的活检针(7)和用于存放组织试样的存放装置(10)，存放装置设置在取样点外部和被X射线源照射的区域内；评估装置。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
