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자각식 검안 장치 및 자각식 검안 프로그램
专利权人:
NIDEK CO.; LTD.
发明人:
TAKII MICHIHIROJP,다키이 미치히로,HANEBUCHI MASAAKIJP,하네부치 마사아키,KAWAI NORIJIJP,가와이 노리지
申请号:
KR1020170104389
公开号:
KR1020180027333A
申请日:
2017.08.17
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
An optical property of a tested eye is measured with good precision when subjectively measuring the optical property of the tested eye. A subjective optometric device which is located in an optical path of a projection optical system for projecting a visual target light flux toward the tested eye, has a correction optical system for changing the optical property of the visual target light flux, provides a subjective measuring means subjectively measuring the optical property of the tested eye, and subjectively measures the optical property of the tested eye comprises: an objective measuring means emitting measuring light to a fundus of the tested eye, having a measuring optical system receiving reflected light, and objectively measuring the optical property of the tested eye and a control means objectively measuring the optical property of the tested eye by the objective measuring means while the optical property of the tested eye is subjectively measured by the subjective measuring means.COPYRIGHT KIPO 2018(과제) 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정할 때에, 피검안의 광학 특성을 양호한 정밀도로 측정한다.(해결 수단) 시표 광속을 피검안을 향하여 투영하는 투광 광학계의 광로 중에 배치되고, 시표 광속의 광학 특성을 변화시키는 교정 광학계를 갖고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 측정 수단을 구비하고, 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하는 자각식 검안 장치로서, 피검안의 안저에 측정광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 측정 광학계를 갖고, 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 타각식 측정 수단과, 자각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 자각적으로 측정하고 있는 동안에, 타각식 측정 수단에 의해 피검안의 광학 특성을 타각적으로 측정하는 제어 수단을 구비한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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